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STI5300C晶体管图示仪 综合了5000E和5300HX的所有功能,能够创建用于存储和直观操作的数字曲线。STI5300CSTI5000C可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。使用高速ATE测试步骤生成曲线,逐点构建曲线,使用美国STI品牌5000C或5300C测试系统快速准确地生成精度数据点,数据增量可按线性或对数步长编程,曲线生成速度很快,每个步骤的典型测试时间为6到20MS,一条200个数据点的曲线通常只需要几秒钟就可以生成,捕获的曲线数据......

产品描述

STI5300C晶体管图示仪综合了5000E和5300HX的所有功能,能够创建用于存储和直观操作的数字曲线。STI5300C&STI5000C可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。使用高速ATE测试步骤生成曲线,逐点构建曲线,使用美国STI品牌5000C或5300C测试系统快速准确地生成精度数据点,数据增量可按线性或对数步长编程,曲线生成速度很快,每个步骤的典型测试时间为6到20MS,一条200个数据点的曲线通常只需要几秒钟就可以生成,捕获的曲线数据点可以加载到Excel中创建曲线跟踪表示。可以用于测试半导体分立器件,二极管,三极管,MOSFET,IGBT,稳压管等的静态电性参数。 
Scientific Test, Inc,总部位于美国德州。简称STI,专注于分立元器件的测试源的开发,我们在和客户沟通中发现较多的美国军工级,火箭级,卫星级产品所使用的器件报告,每个分离元器件报告,多是采用STI的数据存档格式。美国STI品牌的晶体管图示仪STI5000系列是一套多用途半导体分立器件high speed智能测试系统。STI品牌的晶体管图示仪具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。ST产品操作简单易操作,测试工程师仅仅使用USB接口或者RS232窜口与电脑连接,配合电脑软件使用就可以测试并获取结果。精确获取/实现测试数据以EXCEL的格式保存,特性曲线保存相当方便。
STI5300C

STI5300C晶体管图示仪使用说明书

电压最高分辨率:1mV 
电流最高分辨率:0.1nA 
导通电阻最高分辨率:1μΩ
栅极电压最高20V
提供控制用电脑,预装PCW测试软件
基于PC
多种可用曲线
可编程数据点增量/li>
增量可以是线性的或对数的
可编程关闭时间以最大限度地减少加热
保存和调用曲线输入程序
保存和调用以前捕获的曲线图像
将曲线数据直接加载到 Excel
连续运行多达 10 个曲线程序,数据自动加载到 Excel
编程最大电流/电压限制以防止损坏或发热
存储/调用测试程序
多条连续曲线
多个设备
对数曲线
自动将曲线数据加载到 Excel
大量曲线选择/li>
易于使用:选择曲线,输入范围,按开始
全范围电流(不限于20A)
图形特征可选用工具:刻度轴、更改日志/线性、查看曲线上的数据点、飞涨、打印图表、为新扫描设置光标、保存图表
没有跳线
无SMU设置选择;全自动

STI5300C晶体管图示仪可测试产品

二极管、三极管、Mosfet、IGBT、包括SiC 和GaN 材料的新型Mosfet。测试参数包括但不限于: 
Zener/Diode:VF,IR,BVR,BVZ,ZZ 
Transistor:hFE,VBEON,IEBO,BVEBO,VCESAT,ICBO,ICEO,BVCEO,VBESAT,BVCBO 
MOSFET:VGSTH,IDSS,BVDSS,BVSON,IGSS,VSD,IDON,VGSON,GFS 
JFET:IDSS,BVDGO,IGSS,IDOFF,BVGSS,VDSON 
IGBT:VGETH,ICES,BVCES,VCEON,IGES,VGEON,VF,ICON 
STI5300C曲线跟踪仪

STI5300C晶体管图示仪测试项目操作说明书

TEST SPECIFICATION
  PARAMETER V RANGE I RANGE MAX RES. ACCURACY
 
 
LEAKAGE
IR,ICBO,ICEO/R/S/X,IDSS/X,IDOFF,IDRM,IRRM 10V to 999V (2000V)1 2NA (20PA)2 to 50MA 1 NA (1PA)2 1% + 2NA + 20PA/V8 (1% + 200PA + 2PA/V)2,8
IEBO,IGSSF,IGSSR,IGSS,IGKO,IR (OPTO) 10V to 20V (80V)3 2NA (20PA)2 to 3A 1 NA (1PA)2 1% + 2NA + 20PA/V8 (1%+ 200PA + 2PA/V)2,8
BREAKDOWN BVCEO,BVCES (IGBT)
(300μS Pulse above 10mA)
10V to to 450V (900V)1 to 700V (1400V)1
to 800V (1600V)1
100μA to 200MA to 100MA to 50MA 1 MV 1% + 100MV
BVDSS,VD,BVCBO,VDRM,VRRM,VBB,BVR 10V to 999V (2000V)1 100NA to 50MA 1 MV 1% + 100MV
 
 
BVZ
10V to 5.00V to 9.999V to 50.00V
to 700V (1400V)1 to 999V (2000V)1
BVZ Soak - 50V (100V)
0-50 ms to 99 secs
10μA to 49.9A (500A)4,10
to 25A (250A)4,10
to 9.99A to 100 MA
to 50MA to 400mA to 80mA
 
 
1 MV
 
 
0.4% + 2 LSB
BVEBO,BVGSS,BVGKO 10V to 20V (80V)3 100NA to 3A 1 MV 1% + 10MV
VCESUS VCEOSUS,VCERSUS,VCEVSUS VCE:TO 1500V Inductive Kickback,35mH choke IC:to 4A 0.5V 2% + 0.5V
IMPEDANCE ZZ (1 kHZ) 0.1Ω to 20 KΩ 0.1V to 200V DC
(measure 50μV to 300mV rms)
 
100μA to 300mA DC
0.001 Ω 1μV  
1% + 1% Range
GAIN hFE (1 to 99,999) CTR (01 to 99,999) gFS,gFE VCE:.10V to 5.00V5 to 9.99Vto 49.9V
VDS,ID:Same as ON STATE VGS:0.1V to 20V (80V)3
IE:10μA to 49.9A (99.9A)9 (500A)4,10
derate to 25A (50A)9 (250)4,10
derate to 9.99A IF,IB:100NAto10A
 
∆ID/∆VGS automatically computed
 
 
.01 hFE
.0001 CTR
 
 
VCE:1% + 10MV IC:1% + 100NA IF,IB:1% +5NA

STI5300C晶体管图示仪主要配置

主机5000C,1000V,100A 
提供以下封装对应的测试夹具共18 个: SOD323HE,SMB,SOD882,DFN0603-DL,DFN2018-6A, SOT23,DFN2020,SOT883, SOT223,S OD883B,SOD523,SMA,SOT-363,PowerPAK-SO8,DFN3.3*3.3,TO220,DFN5*6,镊式贴片二极管测试夹具。 
STI5300C晶体管图示仪来源于专注半导体分立器件测试系统的研发制造的STI。主机为5000C,静态测试电压1000V,静态电流100A,5000C操作简单,由于系统基于WINDOWS系统,测试界面采用输入式方式,程序编辑非常的简易,测试数据采用单独的界面,可以更加有效的让工程师得到非常详细的测试数据,其测试系统采用分体式设计,可有效的提升设备的扩展性,测试机设定有电路保护,可以有效的保护操作人员的安全性。5000C提供特性曲线输出功能,便于客户对样品的性能有更完整和直观的把握。 5000系列还有其他型号,用户可以根据需求选择适合的曲线跟踪设备。
PART NUMBER DESCRIPTION
5000C晶体管图示仪 Curve Tracer 2NA to 50A, 20v, 1Kv
5000E Discrete Semiconductor Tester 2NA to 50A, 20v, 1Kv
5300C晶体管图示仪 Curve Tracer 2NA to 50A, 20v, 1Kv (extended ranges available)
5300HX Discrete Semiconductor Tester 2NA to 50A, 20v, 1Kv (extended ranges available)
银飞有售,文章来源于测试仪器
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